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同惠TH513半導(dǎo)體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀是常州同惠電子根據(jù)當(dāng)前半導(dǎo)體功率器件發(fā)展趨勢，針對(duì)半導(dǎo)體材料及功率器件設(shè)計(jì)的分析儀器。 儀器采用了一體化集成設(shè)計(jì)，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動(dòng)化集成

TH512 半導(dǎo)體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀是常州同惠電子根據(jù)當(dāng)前半導(dǎo)體功率器件發(fā)展趨勢，針對(duì)半導(dǎo)體材料及功率器件設(shè)計(jì)的分析儀器。 儀器采用了一體化集成設(shè)計(jì)，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動(dòng)化集成。

TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀簡介：TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當(dāng)前半導(dǎo)體功率器件發(fā)展趨勢，針對(duì)半導(dǎo)體材料及功率器件設(shè)計(jì)的分析儀器。 儀器采用了一體化集成設(shè)計(jì)，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動(dòng)化集成。

HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀：對(duì)應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，1MHz 測量時(shí)間：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB

日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器：封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 C、D 2項(xiàng)目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 靜電容量:最多可分成14類，能簡單地根據(jù)測量值進(jìn)行分類 控制檢測功能 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C, GP-IB

HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器：封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 C、D 2項(xiàng)目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 靜電容量:最多可分成14類，能簡單地根據(jù)測量值進(jìn)行分類 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C, GP-IB

HIOKI日置C測試儀電容測試設(shè)備 3504-40：封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 C、D 2項(xiàng)目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C

費(fèi)思FTI5000系列FTI5010-10000保險(xiǎn)絲測試儀是專為保險(xiǎn)絲、熔斷器等產(chǎn)品設(shè)計(jì)的專業(yè)測試設(shè)備，嚴(yán)格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-2015及IEC60296-6:2010等國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。通過模擬多種復(fù)雜工況（如熔斷計(jì)時(shí)、電流沖擊、耐久測試等），費(fèi)思FTI5000保險(xiǎn)絲測試儀能夠全面驗(yàn)證保險(xiǎn)絲的性能與可靠性，確保產(chǎn)品滿足工業(yè)及汽車電子領(lǐng)域的高標(biāo)準(zhǔn)要求。